上海光學(xué)儀器一廠
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詳細(xì)摘要： 儀器特點(diǎn)：機(jī)械比較儀適用于測(cè)量工件的幾何尺寸和形位偏差，特別是檢定工件的跳動(dòng)量，并可用比較法測(cè)量長(zhǎng)度
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：上海市更新時(shí)間：2024-07-04 在線留言
詳細(xì)摘要： 儀器特點(diǎn)：立式光學(xué)計(jì)LG-1是一采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式來(lái)測(cè)量物體外形尺寸的儀器.主要用于五等精度量塊,一級(jí)精度柱型規(guī)以及各種圓柱形、球形、線形等物...
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詳細(xì)摘要： 儀器特點(diǎn)：數(shù)字式立式光學(xué)計(jì)JDG-S2是一般是用標(biāo)準(zhǔn)器（如量塊）以比較法測(cè)量工件的尺寸
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詳細(xì)摘要： 儀器特點(diǎn)：JDG-PC立式光學(xué)計(jì)軟件分析系統(tǒng)是我廠新開發(fā)的高性價(jià)比，具有高精度、數(shù)據(jù)記憶、數(shù)據(jù)處理等特點(diǎn)的軟件
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